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IC芯片外觀檢測(cè)設(shè)備,IC芯片表面瑕疵缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

隨著科技的發(fā)展,大多數(shù)電子元件行業(yè)的都用上了機(jī)器視覺技術(shù)來輔助企業(yè)生產(chǎn),下面來說個(gè)例子,關(guān)于IC芯片的。

IC芯片外觀檢測(cè)系統(tǒng)在IC集成芯片器件生產(chǎn)過程中,芯片的外觀質(zhì)量檢測(cè)是其中一項(xiàng)必不可少的環(huán)節(jié),包括芯片的引腳尺寸、殘缺、偏曲、間距不均、平整度差等檢測(cè)項(xiàng)目,而上述質(zhì)量問題會(huì)直接影響電路產(chǎn)品的質(zhì)量。

目前IC集成芯片器件的外觀質(zhì)量檢測(cè)主要采用人工目檢方法。但人工目檢方法存在檢測(cè)速度慢、檢測(cè)精度低等諸多缺陷,在一定程度上制約了芯片生產(chǎn)行業(yè)的發(fā)展,如何改進(jìn)生產(chǎn)檢測(cè)工藝,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)方法的智能化和自動(dòng)化,提高微觀級(jí)別工藝檢測(cè)精度和效率,降低成本,促進(jìn)大規(guī)模集成電路工業(yè)化生產(chǎn)技術(shù)的升級(jí),成為IC芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的迫切需要。

針對(duì)IC集成芯片的特點(diǎn),盈泰德科技智能制造研發(fā)了一種IC芯片外觀檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備采用圖像處理方法,并設(shè)計(jì)基于機(jī)器視覺技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)IC芯片的外觀質(zhì)量檢驗(yàn)。
IC芯片外觀檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備

以上就是盈泰德科技智能制造對(duì)自主研發(fā)的設(shè)備,“IC芯片外觀檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備”向大家做個(gè)簡(jiǎn)單介紹,盈泰德智能制造集機(jī)器視覺檢測(cè)設(shè)備研發(fā)、制造、銷售為一體,致力為工業(yè)制造企業(yè)提供專業(yè)的機(jī)器視覺檢測(cè)方案。如果你的工業(yè)生產(chǎn)線中需要用到機(jī)器視覺檢測(cè)方面的技術(shù),那么不妨和我們盈泰德科技聊聊,我們會(huì)先根據(jù)你的需求分析,免費(fèi)從一個(gè)專業(yè)的角度來給你一個(gè)合適的方案,再聽取你的意見,即使沒達(dá)成合作,我們也希望能多認(rèn)識(shí)個(gè)朋友。