晶體視覺檢測(cè)（晶體微電池缺陷檢測(cè)設(shè)備）
發(fā)布日期：2021-06-19
一、需求描述 晶體微電池為高精度檢測(cè)（微米）產(chǎn)量大且質(zhì)量要求高，當(dāng)前采取人工視覺檢測(cè)與物理測(cè)量方法，由于人體本身的體力與精力有限，長時(shí)間觀察與測(cè)量會(huì)發(fā)生疲勞，無法保證完全做到產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)100%可控。 通過機(jī)器視覺檢測(cè)可獲得以下...
發(fā)布日期：2021-06-19
一、需求描述 晶體微電池為高精度檢測(cè)（微米）產(chǎn)量大且質(zhì)量要求高，當(dāng)前采取人工視覺檢測(cè)與物理測(cè)量方法，由于人體本身的體力與精力有限，長時(shí)間觀察與測(cè)量會(huì)發(fā)生疲勞，無法保證完全做到產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)100%可控。 通過機(jī)器視覺檢測(cè)可獲得以下...
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