電子元器件外觀檢測(cè)設(shè)備(自動(dòng)檢測(cè)產(chǎn)品外觀尺寸大小及缺陷)
發(fā)布日期:2021-03-17
一、檢測(cè)內(nèi)容及要求檢測(cè)內(nèi)容: 序號(hào) 檢測(cè)位置 檢測(cè)方式 是否可檢 備注 1 尺寸檢測(cè) 背光檢測(cè) 可檢 局部檢測(cè) 注明:電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測(cè)項(xiàng)目,均需在影像下清晰可見才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于60件(取決于...